Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Горлов М.И., Сергеев В.А.
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Năm:
2015
Nhà xuát bản:
УлГТУ
Ngôn ngữ:
russian
Trang:
407
ISBN 10:
5979514708
ISBN 13:
9785979514703
File:
PDF, 11.07 MB
IPFS:
,
russian, 2015
Litres
Bạn có muốn thêm cừa hàng sách? Xin liên lạc theo support@z-lib.fm
Chuyển đổi tập tin
Các kết quả tìm kiếm tiếp theo
Các lợi ích khác 
